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Elipsómetro experimental LCP-25

Breve descripción:

El polarímetro elíptico manual utiliza el método de extinción para medir el espesor y el índice de refracción de la película, y regula manualmente la desviación y el ángulo de desviación del proceso de prueba.La elipsometría se usa ampliamente en la medición de películas delgadas dieléctricas sobre sustratos sólidos.En el método de medición del grosor de la película, se puede medir con la precisión más fina y más alta.


Detalle del producto

Etiquetas de productos

Especificaciones

Descripción Especificaciones
Rango de medición de espesor 1 nanómetro ~ 300 nanómetro
Rango de ángulo de incidencia 30º ~ 90º , Error ≤ 0,1º
Ángulo de intersección del polarizador y el analizador 0º ~ 180º
Escala angular del disco 2º por escala
mín.Lectura de Vernier 0.05º
Altura del centro óptico 152mm
Diámetro de la etapa de trabajo Φ 50 mm
Dimensiones totales 730x230x290mm
Peso Aproximadamente 20 kilos

Lista de

Descripción Cantidad
Unidad de elipsómetro 1
Láser He-Ne 1
Amplificador fotoeléctrico 1
Fotocélula 1
Película de sílice sobre sustrato de silicio 1
CD de software de análisis 1
Manual de instrucciones 1

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