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Elipsómetro experimental LCP-25

Breve descripción:

El polarímetro elíptico manual utiliza el método de extinción para medir el espesor y el índice de refracción de la película, y regula manualmente la desviación y el ángulo de desviación durante el proceso de medición. La elipsometría se utiliza ampliamente en la medición de películas delgadas dieléctricas sobre sustratos sólidos. En este método, permite medir el espesor de la película con la máxima precisión.


Detalles del producto

Etiquetas de producto

Presupuesto

Descripción Presupuesto
Rango de medición de espesor 1 nm ~ 300 nm
Rango de ángulo de incidencia 30º ~ 90º , Error ≤ 0,1º
Ángulo de intersección del polarizador y el analizador 0º ~ 180º
Escala angular del disco 2º por escala
Lectura mínima de Vernier 0,05º
Altura del centro óptico 152 mm
Diámetro de la plataforma de trabajo Φ 50 mm
Dimensiones generales 730x230x290 mm
Peso Aproximadamente 20 kg

Lista de piezas

Descripción Cantidad
Unidad elipsómetro 1
Láser de helio-neón 1
Amplificador fotoeléctrico 1
Fotocélula 1
Película de sílice sobre sustrato de silicio 1
CD de software de análisis 1
Manual de instrucciones 1

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