Elipsómetro experimental LCP-25
Especificaciones
Descripción | Especificaciones |
Rango de medición de espesor | 1 nanómetro ~ 300 nanómetro |
Rango de ángulo de incidencia | 30º ~ 90º , Error ≤ 0,1º |
Ángulo de intersección del polarizador y el analizador | 0º ~ 180º |
Escala angular del disco | 2º por escala |
mín.Lectura de Vernier | 0.05º |
Altura del centro óptico | 152mm |
Diámetro de la etapa de trabajo | Φ 50 mm |
Dimensiones totales | 730x230x290mm |
Peso | Aproximadamente 20 kilos |
Lista de
Descripción | Cantidad |
Unidad de elipsómetro | 1 |
Láser He-Ne | 1 |
Amplificador fotoeléctrico | 1 |
Fotocélula | 1 |
Película de sílice sobre sustrato de silicio | 1 |
CD de software de análisis | 1 |
Manual de instrucciones | 1 |
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