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Elipsómetro experimental LCP-25

Descripción breve:

El polarímetro elíptico manual utiliza el método de extinción para medir el espesor y el índice de refracción de la película, y regula manualmente la desviación y el ángulo de desviación del proceso de prueba. La elipsometría se utiliza ampliamente en la medición de películas delgadas dieléctricas sobre sustratos sólidos. En el método de medición del espesor de la película, se puede medir con el máximo espesor y precisión.


Detalle del producto

Etiquetas de productos

Presupuesto

Descripción Presupuesto
Rango de medición de espesor 1 nm ~ 300 nm
Rango de ángulo de incidencia 30º ~ 90º, Error ≤ 0,1º
Ángulo de intersección del polarizador y el analizador 0º ~ 180º
Escala angular del disco 2º por escala
Lectura mínima del vernier 0,05º
Altura del centro óptico 152 milímetros
Diámetro de la etapa de trabajo Φ 50 mm
Dimensiones generales 730x230x290 mm
Peso Aproximadamente 20 kg

Lista de piezas

Descripción Cantidad
Unidad de elipsómetro 1
Láser He-Ne 1
Amplificador fotoeléctrico 1
Fotocélula 1
Película de sílice sobre sustrato de silicio 1
CD de software de análisis 1
Manual de instrucciones 1

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