LCP-27 Medición de la intensidad de difracción
Descripción
El sistema experimental se compone principalmente de varias partes, como fuente de luz experimental, placa de difracción, registrador de intensidad, computadora y software de operación. A través de la interfaz de la computadora, los resultados experimentales se pueden usar como un archivo adjunto para la plataforma óptica, y también se puede usar solo como un experimento. El sistema tiene un sensor fotoeléctrico para medir la intensidad de la luz y un sensor de desplazamiento de alta precisión. La regla de rejilla puede medir el desplazamiento y medir con precisión la distribución de la intensidad de difracción. La computadora controla la adquisición y el procesamiento de datos, y los resultados de la medición se pueden comparar con la fórmula teórica.
Experimentos
1.Prueba de difracción de una sola rendija, rendija múltiple, porosa y de múltiples rectángulos, la ley de la intensidad de difracción cambia con las condiciones experimentales
2. Se utiliza una computadora para registrar la intensidad relativa y la distribución de la intensidad de una sola rendija, y el ancho de la difracción de una sola rendija se usa para calcular el ancho de la única rendija.
3.Observar la distribución de intensidad de la difracción de múltiples rendijas, orificios rectangulares y orificios circulares.
4.Para observar la difracción de Fraunhofer de una rendija
5.Para determinar la distribución de la intensidad de la luz.
Especificaciones
Artículo |
Especificaciones |
Láser He-Ne | > 1,5 mW a 632,8 nm |
De una sola hendidura | 0 ~ 2 mm (ajustable) con precisión de 0,01 mm |
Rango de medición de imagen | Ancho de la hendidura de 0,03 mm, espaciado de hendidura de 0,06 mm |
Rejilla de referencia proyectiva | Ancho de la hendidura de 0,03 mm, espaciado de hendidura de 0,06 mm |
Sistema CCD | Ancho de la hendidura de 0,03 mm, espaciado de hendidura de 0,06 mm |
Lente macro | Fotocélula de silicio |
Voltaje de alimentación CA | 200 mm |
Precisión de la medición | ± 0,01 mm |